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測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

簡要描述:
測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220,FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀,采用手動或自動方式,測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

更新時間:2024-08-05

訪問量:486

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥,綜合

測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

菲希爾X射線測厚儀XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應用領域有:

測量大規模生產的電鍍部件

測量薄鍍層,例如裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

全自動測量,如測量印刷線路板

分析電鍍溶液


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