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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉儀

簡要描述:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉儀,X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。

更新時間:2024-07-15

訪問量:426

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌TeledyneAPI/美國價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥,綜合

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉儀

菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 230 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。典型的應用領域有:

• 測量大規模生產的電鍍部件

• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻

• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍溶液

菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應XDL230 有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。


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