Fischerscope X-ray XAN215鍍層測(cè)厚儀

簡要描述：

Fischerscope X-ray XAN215鍍層測(cè)厚儀，用于快速、精確的金屬和黃金分析、涂層的通用儀器厚度測(cè)量和RoHS篩選（XAN®250

更新時(shí)間：2024-03-18

訪問量：460

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

在線詢價(jià) 聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥,綜合

Fischerscope X-ray XAN215鍍層測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀無錫駿展儀器供應(yīng)是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 菲希爾X射線測(cè)厚儀無錫駿展儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。