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MINITEST745測厚儀

MINITEST745測厚儀

簡要描述:
MINITEST745測厚儀,SIDSP技術-全球新技術,智能數字化的涂層測厚探頭
EPKJ測厚儀無錫駿展儀器模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢
什么是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的涂層測厚探頭技術。

更新時間:2024-03-18

訪問量:740

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌ElektroPhysik/德國EPK價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,綜合

MINITEST745測厚儀

EPK測厚儀MINITEST745無錫駿展高精確度的SIDSP探頭特征曲線
EPK測厚儀MINITEST745無錫駿展在生產過程中,EPK的SIDSP探頭要經過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上進行校準,大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內都十分精準,將測量錯誤降至低。

EPK測厚儀MINITEST745無錫駿展SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償的編碼,這對于模擬探頭是根本不可能實現的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發生!

EPK測厚儀MINITEST745無錫駿展SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉換到特定設置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數值還是連續測量,SIDSP都能完成您的選擇!


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