品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,生物產業,制藥,綜合 |
MINITEST730測厚儀
MINITEST730系列:統計型,外置一體式探頭,不可更換探頭
MiniTest 730 F 1.5鐵基涂層,0...1500 µm
MiniTest 730 N 07非鐵基涂層,0...700 µm
MiniTest 730 FN 1.5兩用型,0...1500 µm (F),0...700 µm (N)
MiniTest 730 F2鐵基涂層,0...2000 µm
MiniTest 730 F5鐵基涂層,0...5000 µm
MiniTest 730 N 2.5非鐵基涂層,0...2500 µm
MiniTest 730 FN 5兩用型,0...5000 µm (F),0...2500 µm (N)
MiniTest 730 F15鐵基涂層,0...15 mm
EPK涂層測厚儀高度的SIDSP探頭特征曲線
EPK MINITEST730在消費過程中,EPK的SIDSP探頭要經過嚴厲的校準。普通的模仿探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上停止校準,大大降低了特征曲線的偏離。因而特征曲線在整個量程范圍內都非常精準,將丈量錯誤降至zui低
EPK涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在消費過程中,對每個SIDSP探頭都停止了溫度補償的編碼,這關于模仿探頭是基本不可能完成的。這樣溫度改動就不會影響丈量,與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發作!