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Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

簡要描述:
Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀,XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

更新時間:2024-02-26

訪問量:740

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥,綜合

Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希爾X射線測厚儀典型的應用領域有:

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量,如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液

菲希爾X射線測厚儀

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希爾X熒光射線測厚儀儀器規格

外部尺寸 寬x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650

重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg ;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg

內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度"部分的說明)

環境要求

操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空氣濕度 ≤ 95 %,無結露


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