Fischer

菲希爾fischerscope MMS PC2多功能測量系統(tǒng)的模塊化設計，菲希爾測厚儀允許對儀器按客戶的要求進行配備，菲希爾測厚儀并可以在需要的時候配備其它的模塊和探頭進行升級改進。根據(jù)需求可以在儀器上采用不同的測量方法，如電渦流法、磁性法、磁感應法或電阻法等。菲希爾測厚儀能測量金屬上幾乎所有材料的鍍層厚度，以及非導電材料上的金屬鍍層厚度。菲希爾測厚儀它還可以用來測定非鐵磁金屬的電導率和測量奧氏體或雙相鋼材中的鐵素體含量。

菲希爾測厚儀使用BETASCOPE模塊，可按beta背散射方法測量不同底材上有機物和金屬鍍層的厚度，菲希爾測厚儀也就意味著可以測量任意底材上的任意涂層，只要兩者材料間的原子序數(shù)差達到5以上。配上適合的探頭，出于質(zhì)量控制目的，甚至能測量軟性鍍層和潤滑鍍層的厚度，如不銹鋼上的有機納米膜（防指紋膜）或是金屬板生產(chǎn)加工過程中的防銹油脂層

在配備了合適的測量模塊后，F(xiàn)ISCHERSCOPE MMS PC2可靈活運用于來料檢驗，出廠檢驗，或是生產(chǎn)監(jiān)控等。它能提供多種數(shù)據(jù)報告方式，并通過FISCHER的FDD軟件進行質(zhì)量和過程控制。還可以方便地建立自動測量，因為測量系統(tǒng)可以直接控制馬達驅(qū)動的測量臺或XY樣品臺，并通過LAN及I/O模塊嵌入自動生產(chǎn)線。

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