Fischerscope X-RAY XDLM鍍層厚度測量儀特點
菲希爾X射線測厚儀通用性極廣,因為配備了微聚焦管、4個可切換準直器和 3 個基本濾片
菲希爾鍍層測厚儀適用于微小結構,如接插件或線路板
菲希爾測厚儀還適用于遠距離測量(DCM方法,范圍0-80 mm)
底部C型開槽的大容量測量艙
可編程的臺式設備,用于自動測量
Fischerscope X-RAY XDLM鍍層厚度測量儀典型應用領域
測量印刷線路板工業中,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
測量接插件鍍層和觸點鍍層。
在電子和半導體行業中測量功能性鍍層。
黃金、珠寶和鐘表工業。